Agenda de autoridades Diretor de Metrologia Científica e Tecnologia - 08/11/2019

Diretor de Metrologia Científica e Tecnologia

Valnei Smarçaro Cunha

  • Todo o dia
    Participar do curso sobre implantação e uso do novo sistema da Base de Dados de Comparações Chaves do BIPM (KCDB 2.0).

    Objetivo: Treinamento para uso da nova base de dados do BIPM que opera todas as solicitações de Capacidades de Medição e Calibração (CMC) dos Instituos Nacionais de Metrologia.

    Participantes: Representantes de vários INMs.

    Local: Bureau International des Poids et Mesures (BIPM).