Brasil, México, Argentina e Peru desenvolvem projeto colaborativo em metrologia dimensional

Entre os dias 19 e 21 de agosto, representantes dos Institutos Nacionais de Metrologia (INMs) do México (Cenam), da Argentina (Inti) e do Peru (Inacal) estiveram no Inmetro para a terceira reunião do projeto “Calibração de material de referência padrão para uso em calibração de ampliação ou escalas de microscopia óptica, microscópio de varredura eletrônica e fotogrametria”.

Com duração de dois anos, a iniciativa é financiada pelo Banco Interamericano de Desenvolvimento (BID), no âmbito do projeto “Fortalecimento dos Institutos Nacionais de Metrologia no Hemisfério, em apoio às tecnologias emergentes”. 

Ao longo do tempo, o grupo tem trabalhado na comparação de diferentes soluções para calibração de tamanho, forma e posição de padrões de referência ópticos, para fornecer rastreabilidade às medições em áreas micro e nanometrológicas, atendendo diversos setores industriais, entre eles o automobilístico e o de microeletrônica.

Ao longo do projeto, foi feita revisão geral do estado da arte nesta área e estão sendo comparados diversos algoritmos utilizados pelos INMs, para buscar os que têm resultados mais adequados para as mais diferentes situações e geometrias. “A ideia do grupo é comparar metodologias, compartilhar o que é utilizado em cada instituto, para melhorar os sistemas de medição de todos”, explicou Davi Brasil, servidor da Divisão de Metrologia Mecânica (Dimci/Dimec) e representante do Inmetro no projeto. 

Nesta última reunião, cada Instituto apresentou os algoritmos desenvolvidos para determinação de posição e diâmetro de círculos, além de posição e espessura de linhas. 

Foram analisados e discutidos os resultados das últimas comparações de imagens reais e sintéticas, os quais fazem parte da validação dos métodos propostos por cada instituto.

Encontro SIM

Da esquerda para a direita: Carlos Galvan Hernández (CENAM - México); Daniel Cano (INACAL - Peru); Rodrigo Milne (INTI - Argentina); Armando López Celiz (CENAM - México); Davi Anders Brasil (Inmetro); Bruno Gastaldi (INTI - Argentina); e Eduardo Francisco Herrera Martínez (CENAM - México).